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kg
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隱藏域元素占位
所屬分類：
產品附件：
DPF ISS 系列校準片使用說明.rev.B.pdf
Probe ISS_101D100-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_101D250-500_datasheet_RevB.pdf
Probe ISS_10-01D100-150_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10-01D150-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_101D250-1250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10-01D75-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10101D150_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_1001D100_datasheet_RevA(1).pdf
德普福的探針校準片支持各種芯片測試級探針校準。使用矢量網絡分析儀測試時，探針配合校準片校準后，能夠精準測試片上高頻性能。德普福校準片提供SOLT，TRL等校準方法。還可以根據客戶實際應用需求，支持定制!
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TDR手持可調探針-SS（40GHz）
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無
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